USIPxx
- 최첨단 검사 요구 사항을 충족하도록 설계
- 생산성 최대 5배 향상
- 랙당 최대 768개의 병렬 위상 배열 채널을 처리하여 포괄적인 위상 배열 작동 제공

제품 설명
초음파 검사기용 USIP|xx 전자 플랫폼은 광범위한 초음파 검사 시스템에 필요한 작동 전자 장치를 제공합니다.
수집된 검사 데이터를 매우 빠른 속도로 처리하여 탁월한 검출 확률(POD)로 빠른 온라인 검사를 제공합니다.
- 최첨단 검사 요구 사항을 충족하도록 설계
- 생산성 최대 5배 향상
- 랙당 최대 768개의 병렬 위상 배열 채널을 처리하여 포괄적인 위상 배열 작동 제공
- 이더넷 연결 모듈을 사용하여 Control-PC와의 통신을 위한 높은 데이터 처리량 보장
- 2D 매트릭스 프로브를 포함한 기존 또는 위상 배열 트랜스듀서와 함께 사용 가능
- Interbus를 통한 신호 교환을 통해 사용자의 개별 환경에 쉽게 통합 가능
- 모듈식 설계로 유지 관리 용이
- 아키텍처를 통해 후속 평가 및 향후 업그레이드를 위한 원시 데이터 액세스 용이
USIP|xx Specifications
USIP|xx
Configuration
- 64 channels per board
- Up to 768 channels in a rack
- Up to 8 racks connected together
Pulsers
- 25 V to 200 V supply voltage, adjustable in 5 V steps
- Negative rectangle
- Adjustable width 20 ns to 1000 ns in 5 ns steps
- Max. PRF 20 KHz
- Adjustable delay 0 – 80 μs in 2.5 ns steps
Receivers
- 4 Vpp input voltage
- 0.5 – 15 MHz bandwidth (-3 dB)
- 80 dB dynamic range (per channel)
- Delay 0–80 μs in 5 ns steps
Digitizers
- Sampling frequency of 50 MHz
- Up-sampling up to 400 MHz
- 20 bits amplitude/channel; up to 24 bit for formed beam
Interfaces
- External PRF input
- 4 x encoders + 2 Index
- Up to 8 x 128 TDR, 32GPIO, 3 x Interbus
- 3 x light barrier inputs
- Gigabit Ethernet to PC
Phased Array
features
- Focusing, steering and scanning
- Aperture size from 1 to 256 elements
- Memory sub-cycles (no firing) with water path
suppression (Paint Brush)
- Pulse echo, Through-transmission, Pitch-catch
- Up to 4096 cycles
Data stream and evaluation
- Up to 8 parallel evaluations per board and per cycle
- Up to 8 status A-Scans (512 pts) with echo-max
- Data A-Scan with 400 MHz sampling rate (max. 4096 samples)
- Raw A-Scan with 50 MHz sampling rate (max. 32.000 samples)
- 5 gates including Interface trigger gate, measurement resolution 2,5 ns
- Individual gain per gate (Local Gain)
- 128 evaluation channels per board
- 512 delay law sets per board


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